resumen

resumen gy DanicIF777Hotmai I Ocopa,nR 14, 20 IE 4 pagcs Con el reflectómetro de rayos X Siemens DSOOO la caracterización altamente precisa y no destructiva de película delgada o de muestras multicapa se convierte en una tarea sencilla y de resolución inmediata. Con él se pueden determinar espesores de capa, densidades, rugosidades de superficie e interfase, así como secuenclas de capas. Su campo de aplicaclón se encuentra tanto en control de procesos como en la investigación.

Como ejemplos de materiales de interés se pueden citar entre otros: vidrio écnico, metales, semiconductores, superconductores, materiales cerámicos, etc. El dispositivo permite medidas por difracción de rayos X para análisis cristalográficos de fases, determinación del tamaño cristalino o determinación de estructuras sin modificar su configuración. IN-REFSIM, por ejemplo, es el nuevo programa de evaluación que corre ba•o MS-WINDOWS.

Calcula reflectogramas y lleva acabo automá ora muestra comparand si. _ to View (Fig. 1). Se puede real r cual muestras, por ejempl periódicas, gradiente de modelo de la ectograma medido ulación de s, multicapas ientes en multicapas La Difracción de Rayos X (DRX) es una técnica que permite la identicación de minerales presentes en una muestra de cerámica a partir del registro de los rayos X difractados por los cristales de la muestra.

Los cristales son formaciones simé SWipe page simétricas de átomos que contienen las y planos de alta densidad atómica y son capaces de actuar como redes tridimensionales de difracción, pues la separación entre las las paralelas de átomos igualmente espaciados o planos atómicos es del orden de la longitud de onda de los rayos X. Cuando los rayos X de una determinada frecuencia golpean un átomo, interactúan con sus electrones haciendo que vibren con la frecuencia de los rayos X, retransmitiendo los rayos X sin cambio en la frecuencia.

Estos rayos re- ectados se alejan de los átomos en cualquier direcciónen otras palabras los electrones de un átomo dispersan los haces de rayos X en todas direcciones. Cuando los átomos espaciados a intervalos regulares son irradiados por un haz de rayos X, la radiación dispersada sufre interferencia. En ciertas direcciones se producen interferencias constructivas.

Cuando on re ejados los rayos X, no desde una formación de átomos dispuestos en un plano solitario, sino desde átomos sobre ciertos números de planos paralelos espaciados igualmente, como existen en los cristales, entonces la interferencia constructiva puede ocurrir solo bajo la siguiente condición: nÀ – 2d Sen a Donde – Longitud de onda. d = Distancia entre los planos atómicos. B = Ángulo de incidencia del haz de rayos x. Así, en tanto que cada estructura cristalina es singular para cada mineral, las diferencias de frecuencia en los rayos X difractados serán también especicas de cada mineral.

La técnica cuenta con un detector que convier difractados serán también especícas de cada mineral. La técnica cuenta con un detector que convierte la lectura de frecuencias en un espectro donde los picos de máxima intensidad de frecuencia ubicados en cierto lugar del espectro revelan la presencia de determinados minerales y su abundancia relativa (Rice, 1987: 382-386) (Figuras 3-5) . Entre las limitaciones de la DRX encontramos que la penetración de los rayos X es limitada, por lo que el registro mineralógico suele ir en orden descendente desde la supercie hacia el centro de las muestras.

Esto lleva a problemas en la estimación cuantitativa de la abundancia relativa de los minerales en la muestra, siendo más útil para registro cualitativo de presenciaausencia de minerales. Una fortaleza de la técnica es, por otro lado, la posibllidad de identicar vanantes en los minerales, generadas por ejemplo en procesos metamórcos de las rocas en su exposición a fenómenos atmosféricos. El análisis de la muestra de 17 fragmentos a partir de la DRX ha permitido destacar la presencia de albita, ortoclasas y, en menor medida, dolomita, diopsida y vesuvianita en las muestras del Grupo A.

Estos minerales están, por otro lado, ausentes en el caso del Grupo By el Grupo C. Por otro lado, con relación a los posibles componentes arcillosos, destaca que, dentro de una presencia generalizada de la illita en todos los casos, exista la presencia de otros componentes arcillosos como talco en las muestras del Grupo B y muscovita en el caso del Grupo C (Cuadro 3). 3Lvf4 talco en las muestras del Grupo By muscovita en el caso del Grupo C (Cuadro 3). El análisis cualitativo se enriquece si incluimos la información sobre las variedades de cuarzo o illita identicados (Cuadro 4).

Se han podido registrar hasta ocho variedades de cuarzo. De estas, las ocho variedades aparecen en las 12 muestras correspondientes a las muestras del Grupo A, mientras que en el caso de las muestras de los grupos 3 y C, solo aparece una variedad de cuarzo. En relación con la illita, encontramos que dos variedades caracterizan a la cerámica del Grupo A, mientras que otras dos variedades se asocian con los Grupos B y C. El análisis mediante DRX permite tanto la detección de la asoclación mineralógica primarla presente en las muestras, como de las fases de neoformación, producto del proceso de cocción.

Además, de la información combinada entre las observaciones petrográficas y las fases cristalinas detectadas por DRX pueden concretarse aspectos sobre las condiciones de cocción de las pastas cerámicas. A partir del estudio mineralógico se ha llevado a cabo una comparacion entre las fases mineralógicas identificadas en las muestras cerámicas y los datos obtenidos en las probetas cocidas a diferentes temperaturas, que servirá para estimar la temperatura de cocción de las muestras cerámcas y como criterio de validación de las posibles fuentes de materia prima utilizadas en la elaboración de las piezas.